[发明专利]通过环境条件补偿来提高电子设备准确度的系统和方法无效

专利信息
申请号: 200610067018.9 申请日: 2006-03-31
公开(公告)号: CN1849055A 公开(公告)日: 2006-10-18
发明(设计)人: 佛瑞德·H·艾夫斯;詹姆士·B·萨姆纳斯;布莱德·E·安德森 申请(专利权)人: 安捷伦科技有限公司
主分类号: H05K10/00 分类号: H05K10/00;G12B7/00;G12B5/00;G12B13/00;G05B11/00
代理公司: 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 代理人: 王怡
地址: 美国加利*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 发明公开了一种系统和方法,其被用于测量其自己的由于环境引起的不准确,并且基于这些测量来调整其自身以补偿所述不准确。在一个实施例中,测试系统首先测量通过模型“长”路径的信号损耗,所述“长路径”被构建在与主测试电路相同的基板上。由于测试路径被构建在相同的基板上,因此它代表了环境对测试电路的实际影响。然后,测试信号被发送通过“短”测试路径,由于两个路径之间的参考测量条件所引起的比值差异产生了必需的补偿,然后该补偿被用于校准测试电路。在另一实施例中,测试信号被施加到由基板材料的不同层上的铜构成的电容两端。基板层上的实际环境条件改变了测量到的电容值,该电容值与温度一起作为输入被提供到一个模型,该模型确定对测试电路的补偿。两个实施例都可被应用于受到环境导致的传输线损耗特性改变的影响的单个电路或者系统。
搜索关键词: 通过 环境 条件 补偿 提高 电子设备 准确度 系统 方法
【主权项】:
1.一种电子电路,包括:用于生成具有某组特性的输出信号的电路,所述特性易受所述电子电路的当前环境损耗特性的改变的影响;用于确定所述电子电路的当前环境损耗特性的装置;以及至少部分受控于所述确定装置的的装置,该装置用于不论所述电子电路的所述当前环境损耗特性如何都维持所述某组特性。
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