[发明专利]光半导体装置无效
| 申请号： | 200610067660.7 | 申请日： | 2006-03-24 |
| 公开（公告）号： | CN1838271A | 公开（公告）日： | 2006-09-27 |
| 发明（设计）人： | 中西直树;小野将之;西本雅彦;中森达哉 | 申请（专利权）人： | 松下电器产业株式会社 |
| 主分类号： | G11B7/09 | 分类号： | G11B7/09 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人： | 胡建新 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供一种光半导体装置，可以对轨道间距不同的多个规格的光盘进行记录/再现，并且不需要高精度的组装调整，可以实现组装时间的缩短及低成本化。光半导体装置包括：半导体激光元件(1)；将来自上述半导体激光元件(1)的出射光束分支为主光束和多个副光束的出射光束分支元件(2)；将主光束和副光束聚光到光盘(5)上的物镜(4)；以及分别检测被光盘(5)反射的主光束和副光束的信号检测用受光元件(8)。并且，由出射光束分支元件(2)分支的上述副光束在入射至上述物镜(4)入射时，沿光盘半径方向成为上述主光束光分布的二分割以下的光分布。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体 装置 | ||
【主权项】：
1.一种光半导体装置，具备半导体激光元件、将来自上述半导体激光元件的出射光束分支为主光束和多个副光束的出射光束分支元件、将由上述出射光束分支元件分支的上述主光束和副光束聚光到光盘上的物镜、以及分别检测由上述光盘反射的上述主光束和副光束的信号检测用受光元件；其特征在于，由上述出射光束分支元件分支的上述副光束在入射至上述物镜时，在光盘半径方向上成为上述主光束光分布的二分割以下的光分布。
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