[发明专利]用于加速老化测试设备的样本加热器和控制系统无效
| 申请号： | 200610067848.1 | 申请日： | 2006-03-14 |
| 公开（公告）号： | CN1841046A | 公开（公告）日： | 2006-10-04 |
| 发明（设计）人： | H·K·哈德卡斯尔三世 | 申请（专利权）人： | 阿特拉斯材料测试技术有限责任公司 |
| 主分类号： | G01N17/00 | 分类号： | G01N17/00;F24J2/10;F24J2/46 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 范莉 |
| 地址： | 美国伊*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 一种用于将太阳辐射集中到测试样本上的加速老化测试设备，包括将能量传递到测试样本的加热元件。温度传感器可操作地连接到测试样本中的至少一个，以产生代表测试样本的工作温度的测试信号。用于产生温度设定点的控制器连接到所述温度传感器并且响应所述测试信号，以选择性地控制应用到所述加热元件的功率电平以便控制能量传递到测试样本的速率。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 加速 老化 测试 设备 样本 加热器 控制系统 | ||
【主权项】：
1.一种用于将太阳辐射集中到可操作地连接到靶板的测试样本上的加速老化测试设备，包括反射阳光集中器，该反射阳光集中器与所述靶板可操作地连接和相对地布置并且适于调节所述测试样本的工作温度，所述加速老化测试设备包括：将能量传递到所述测试样本的加热元件，所述加热元件可操作地连接到所述设备；温度传感器，其可操作地连接到所述测试样本中的至少一个，用于产生代表所述测试样本的工作温度的测试信号；和用于产生温度设定点的控制器，其连接到所述温度传感器并且响应所述测试信号，用于选择性地控制应用到所述加热元件的功率电平以便控制能量传递到所述测试样本的速率，当所述测试样本的工作温度大于温度设定点时所述速率大体减小，当所述测试样本的工作温度大于温度设定点时所述速率大体增大，当所述测试样本的工作温度基本等于温度设定点时所述速率大体保持恒定。
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