[发明专利]半导体存储器及分析半导体存储器故障的方法无效
| 申请号： | 200610067888.6 | 申请日： | 2006-03-14 |
| 公开（公告）号： | CN1835119A | 公开（公告）日： | 2006-09-20 |
| 发明（设计）人： | 堂野千晶 | 申请（专利权）人： | 尔必达存储器股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C11/406 | 分类号： | G11C11/406;G11C29/00 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人： | 孙纪泉 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 当计数器输出信号(104)采用与特定地址有关的预定值时，计数器控制器(10)停止刷新计数器(20)的计数器操作，以将计数器输出信号(104)保持在恒定值。维持刷新特定地址的状态，并且在该状态下完成故障分析。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体 存储器 分析 故障 方法 | ||
【主权项】：
1.一种在半导体存储器中分析针对特定地址的有关刷新操作的故障的方法，所述半导体存储器包括适于对执行了多少次刷新操作进行计数并且生成计数器输出信号(104)的刷新计数器(20)以及适于对计数器输出信号(104)进行译码以同时激活一组字线的译码器(30)，其中，当计数器输出信号(104)具有预定值时，所述译码器(30)同时激活与包括所述特定地址的地址相关的一组预定字线，所述方法包括：将计数器输出信号(104)保持在所述预定值，以便维持所述一组预定字线被激活的状态；以及在所维持的状态下分析故障的原因。
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