[发明专利]蚀刻残渣除去方法以及使用它的半导体器件的制造方法无效
申请号: | 200610068048.1 | 申请日: | 2006-03-24 |
公开(公告)号: | CN1862786A | 公开(公告)日: | 2006-11-15 |
发明(设计)人: | 伊藤武志 | 申请(专利权)人: | 冲电气工业株式会社 |
主分类号: | H01L21/768 | 分类号: | H01L21/768 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 王以平 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 谋求蚀刻残渣的剥离性的提高、处理时间的短缩、以及剥离液使用量的减少。在蚀刻残渣除去方法的清洗过程中,进行第1水洗处理(11)、第1干燥处理(12)、剥离液处理(13)、漂洗处理(14)、第2水洗处理(15)、以及、第2干燥处理(16)。在第1水洗处理(11)中,用纯水将绝缘膜以及这之上的金属布线水洗。在第1干燥处理(12)中,例如在常温的氮气氛围中干燥绝缘膜以及金属布线。在剥离液处理(13)中,例如用胺类剥离液将附着在绝缘膜以及金属布线上的蚀刻残渣剥离。在漂洗处理(14)中,例如用漂洗液IPA洗濯绝缘膜以及金属布线。在第2水洗处理(15)中,用纯水将绝缘膜以及金属布线水洗。之后,在第2干燥处理(16)中,例如在常温的氮气氛围中干燥绝缘膜以及金属布线。 | ||
搜索关键词: | 蚀刻 残渣 除去 方法 以及 使用 半导体器件 制造 | ||
【主权项】:
1.一种蚀刻残渣除去方法,用于将除去了形成在绝缘膜上的金属布线上的抗蚀图形后残存的蚀刻残渣除去,其特征在于,进行如下的处理:将所述绝缘膜以及所述金属布线水洗的第1水洗处理;将所述绝缘膜以及所述金属布线干燥的第1干燥处理;用剥离液将附着在所述绝缘膜以及所述金属布线上的所述蚀刻残渣剥离的剥离液处理;用漂洗液将所述绝缘膜以及所述金属布线洗濯的漂洗处理;将所述绝缘膜以及所述金属布线水洗的第2水洗处理;将所述绝缘膜以及所述金属布线干燥的第2干燥处理。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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