[发明专利]云纹干涉载频调制测量物体变形场的方法无效
| 申请号： | 200610070348.3 | 申请日： | 2006-11-28 |
| 公开（公告）号： | CN1971208A | 公开（公告）日： | 2007-05-30 |
| 发明（设计）人： | 孙平 | 申请（专利权）人： | 山东师范大学 |
| 主分类号： | G01B11/16 | 分类号： | G01B11/16;G01B11/00;G01B9/02;G01D5/26;G01D5/38 |
| 代理公司： | 济南圣达专利商标事务所 | 代理人： | 王书刚 |
| 地址： | 250014山东*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种云纹干涉载频调制测量物体变形场的方法。该方法为在云纹干涉中，根据照明光入射角度的变化与载波条纹的空间频率成正比的关系，通过控制反射镜的偏转，改变入射试件栅照明光的入射角度，引入载波；实现干涉条纹的空间调制；利用傅立叶方法解调出物体变形的相位场，进而求出物体的变形场。本发明利用照明光入射角度的变化与载波频率之间的正比关系，可方便地通过偏转反射镜改变入射试件栅照明光的入射角度来实现干涉条纹的空间调制，实现方便、对测量环境要求低。 | ||
| 搜索关键词： | 干涉 载频 调制 测量 物体 变形 方法 | ||
【主权项】：
1、一种云纹干涉载频调制测量物体变形场的方法，其特征是：在云纹干涉中，根据照明光入射角度的变化与载波条纹的空间频率成正比的关系，通过控制反射镜的偏转，改变入射试件栅照明光的入射角度，引入载波，实现干涉条纹的空间调制；利用傅立叶方法解调出物体变形的相位场，进而求出物体的变形场。
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