[发明专利]耐久性测试装置有效

专利信息
申请号: 200610071063.1 申请日: 2006-03-31
公开(公告)号: CN1841041A 公开(公告)日: 2006-10-04
发明(设计)人: 加藤正明;二村麻衣子;宫川洋 申请(专利权)人: 株式会社电装;丰田通商株式会社
主分类号: G01N3/56 分类号: G01N3/56;G01M15/00
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 代理人: 蔡胜利
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 公开了一种用于对接触/分离部分进行耐久性测试操作的耐久性测试装置,在所述接触/分离部分中,第一构件和第二构件彼此反复接触和分离,所述耐久性测试装置包括接触负载发生器和测试介质流体供应装置。接触负载发生器相对于第一构件使第二构件往复运动以产生反复作用于第一构件与第二构件之间的接触负载。测试介质流体供应装置将测试介质流体供应至接触/分离部分以将第一构件和第二构件暴露于测试介质流体。
搜索关键词: 耐久性 测试 装置
【主权项】:
1、一种用于对接触/分离部分(A)进行耐久性测试操作的耐久性测试装置,在所述接触/分离部分(A)中,第一构件(1)和第二构件(2)彼此反复接触和分离,所述耐久性测试装置包括:接触负载发生器(13),其相对于所述第一构件(1)使所述第二构件(2)往复运动以产生反复作用于所述第一构件(1)与所述第二构件(2)之间的接触负载(Fi);和测试介质流体供应装置(8),其将测试介质流体供应至所述接触/分离部分(A),以将所述第一构件(1)和所述第二构件(2)暴露于所述测试介质流体。
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