[发明专利]溶出检测方法和仪器有效

专利信息
申请号: 200610071444.X 申请日: 2006-03-28
公开(公告)号: CN1841047A 公开(公告)日: 2006-10-04
发明(设计)人: 岩田庸助;毛利元昭;浅川直树 申请(专利权)人: 株式会社岛津制作所;卫材药业有限公司
主分类号: G01N21/31 分类号: G01N21/31;G01N33/15;B01D59/42
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 张平元;赵仁临
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 溶出检测方法测定特定组分溶出过程,在该过程中以下制剂被溶出到检测液体中,该制剂至少含有溶出后化学性质随时间变化的特定组分和溶出后化学性质不随时间变化的杂质组分。该方法包括:得到包括所述特定组分和其分解物质的体系在两个等吸光点波长λ1、λ2处的该杂质组分吸光度的比率k和该特定组分的吸光度比率k′,并且该方法用k×C2(t)-C1(t)=k×A2(t)-A1(t)和A1(t)/A2(t)=k′由所述制剂的溶出过程中的多个时间点t在所述的两个等吸光点波长λ1、λ2测定的吸光度C1(t)、C2(t)计算所述特定组分吸光度A1(t)、A2(t)中的至少一个,并将结果转换为溶出浓度。
搜索关键词: 检测 方法 仪器
【主权项】:
1.测定特定组分溶出过程的方法,在该过程中以下制剂被溶出到检测液体中,该制剂至少含有溶出后化学性质随时间变化的特定组分和溶出后化学性质不随时间变化的杂质组分,该方法包括:得到包括所述特定组分和其分解物质的体系在两个等吸光点波长λ1、λ2处的该杂质组分吸光度的比率k和该特定组分的吸光度比率k′;在该制剂的溶出过程的多个时间点t,在检测液体的两个等吸光点波长测定每个时间点的吸光度C1(t)、C2(t),并通过使用下列关系式计算该特定组分吸光度A1(t)、A2(t)中的至少一个:k×C2(t)-C1(t)=k×A2(t)-A1(t) (1)及A1(t)/A2(t)=k′ (2);及将该结果转换为溶出浓度。
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