[发明专利]具有圆形形状的纳米线晶体管沟道的半导体器件及其制造方法有效

专利信息
申请号: 200610071765.X 申请日: 2006-03-23
公开(公告)号: CN1855390A 公开(公告)日: 2006-11-01
发明(设计)人: 李成泳;申东石 申请(专利权)人: 三星电子株式会社
主分类号: H01L21/335 分类号: H01L21/335;H01L29/772
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 代理人: 林宇清;谢丽娜
地址: 韩国*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要: 提供一种具有圆形形状的纳米线沟道的场效应晶体管(FET)及制造该FET的方法。根据该方法,在半导体衬底上形成源区和漏区。在该源区和漏区之间耦合多个初步沟道区。该初步沟道区被刻蚀,以及该刻蚀的初步沟道区被退火,以形成FET沟道区,该FET沟道区具有基本上圆形的截面形状。
搜索关键词: 具有 圆形 形状 纳米 晶体管 沟道 半导体器件 及其 制造 方法
【主权项】:
1.一种制造场效应晶体管(FET)的方法,包括:在半导体衬底上形成源区和漏区;形成在源区和漏区之间耦合的多个初步沟道区;刻蚀该初步沟道区;以及退火该刻蚀的初步沟道区,以形成FET沟道区,该FET沟道区具有基本上圆形的截面形状。
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