[发明专利]特定被摄体检测方法和装置有效

专利信息
申请号: 200610072576.4 申请日: 2006-04-07
公开(公告)号: CN101051346A 公开(公告)日: 2007-10-10
发明(设计)人: 艾海舟;黄畅;李源;劳世红 申请(专利权)人: 欧姆龙株式会社;清华大学
主分类号: G06K9/00 分类号: G06K9/00;G06K9/46
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 代理人: 孙海龙
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供了一种特定被摄体检测方法和装置,所述方法包括特征提取步骤,弱分类步骤,强分类步骤以及特定被摄体检测步骤,其特征在于,所述特征提取步骤为提取所输入的图像的粒度空间内的稀疏粒子特征,所述稀疏粒子特征θ(π)为:θ(π)=,αi,αi∈{-1,+1},其中,π为图像的粒度空间,gi(π;x,y,s)为该粒度空间内的一个粒子特征,x,y分别是粒子在图像横坐标和纵坐标轴上的偏移量,s是粒子的尺度,而αi为粒子的组合系数,n为粒子个数。
搜索关键词: 特定 体检 方法 装置
【主权项】:
1.一种特定被摄体检测方法,包括特征提取步骤,弱分类步骤,强分类步骤以及特定被摄体检测步骤,其特征在于,所述特征提取步骤为提取所输入的图像的粒度空间内的稀疏粒子特征,所述稀疏粒子特征θ(π)为: θ ( π ) = Σ i = 1 n α i g i ( π ; x , y , s ) , α i { - 1 , + 1 } 其中,π为图像的粒度空间,gi(π;x,y,s)为该粒度空间内的一个粒子特征,x,y分别是粒子在图像横坐标和纵坐标轴上的偏移量,s是粒子的尺度,而αi为粒子的组合系数,n为粒子个数。
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