[发明专利]采样保持电路和半导体设备无效

专利信息
申请号: 200610073983.7 申请日: 2006-03-29
公开(公告)号: CN1841490A 公开(公告)日: 2006-10-04
发明(设计)人: 平岛博之 申请(专利权)人: 夏普株式会社
主分类号: G09G3/36 分类号: G09G3/36;G09G3/20;G02F1/133
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 王岳;陈景峻
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 第一采样电容器3连接在第一模拟开关1的输出端和地之间,并且第二模拟开关2的输入端连接到第一模拟开关1和第一采样电容器3之间的节点。第二采样电容器4连接在第一模拟开关1的输出端和地之间。在输入电压被施加到第一模拟开关1的输入端的状态下,控制部件导通第一和第二模拟开关1和2,此后断开第二模拟开关2,随后断开第一模拟开关1以及随后导通第二模拟开关2。
搜索关键词: 采样 保持 电路 半导体设备
【主权项】:
1.一种采样保持电路,包括:第一模拟开关;第一采样电容器,其连接在第一模拟开关的输出端和地之间;第二模拟开关,其输入端与第一模拟开关和第一采样电容器之间的节点相连;第二采样电容器,连接在第二模拟开关的输出端和地之间;以及控制部件,用于执行导通第一和第二模拟开关的第一控制,此后执行用于在第一模拟开关导通的状态下断开第二模拟开关的第二控制,随后执行用于在第二模拟开关断开的状态下断开第一模拟开关的第三控制,以及随后执行用于在第一模拟开关断开的状态下导通第二模拟开关的第四控制。
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