[发明专利]组合的正电子发射断层造影设备和磁共振断层造影设备无效
申请号: | 200610074764.0 | 申请日: | 2006-04-03 |
公开(公告)号: | CN1839756A | 公开(公告)日: | 2006-10-04 |
发明(设计)人: | 罗伯特·克里格;雷纳·库思;拉尔夫·拉德贝克;拉尔夫·奥佩尔特;沃尔夫冈·伦兹;塞巴斯蒂安·施米特;马库斯·维斯特 | 申请(专利权)人: | 西门子公司 |
主分类号: | A61B6/02 | 分类号: | A61B6/02;A61B5/055;G01R33/44 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人: | 邵亚丽;李晓舒 |
地址: | 德国*** | 国省代码: | 德国;DE |
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摘要: | 本发明涉及对检查对象进行图像显示的组合正电子发射断层造影和磁共振断层造影设备和方法,该设备具有对应于检查空间的设备部件和对检查对象的正电子发射断层造影图像分析电信号的第一分析单元和具有对应电子单元的Gamma射线检测器。还包括磁共振断层造影设备,其具有高频天线装置和梯度线圈系统。高频天线装置为具有至少两个导体的带状导体天线装置,并比梯度线圈系统更接近检查空间,还具有梯度线圈系统和高频天线装置之间的高频屏障和第二分析单元。带状导体天线装置的每个导体各包括一个具有所属电子单元的Gamma射线检测器单元并为相应的Gamma射线检测器单元和电子单元构造成不能被高频天线装置引起的高频射线穿透的屏蔽罩。 | ||
搜索关键词: | 组合 正电子 发射 断层 造影 设备 磁共振 | ||
【主权项】:
1.一种用于对检查空间(40)中的检查对象(41)进行图像显示的组合正电子发射断层造影和磁共振断层造影设备,包括-正电子发射断层造影设备,具有-对应于检查空间的设备部件(10),其中该设备部件(10)包括至少两个具有对应电子单元(12)的Gamma射线检测单元(11),用于采集检查空间(40)中由检查对象(41)发射的射线并将该射线转换为相应的电信号,以及-第一分析单元(711),用于为检查对象(41)的正电子发射断层造影图像分析电信号,和-磁共振断层造影设备,具有-高频天线装置(20),用于将高频激励脉冲(23)发射到检查空间(40)中和/或接收来自检查空间(40)中检查对象(41)的磁共振信号,其中该高频天线装置(20)构造为具有至少两个导体的带状导体天线装置,-梯度线圈系统(22),用于在检查空间(40)中产生磁梯度场,其中高频天线装置(20)设置得比梯度线圈系统(22)更接近检查空间(40),-设置在梯度线圈系统(22)和高频天线装置(20)之间的高频屏障(21),用于将高频天线装置(20)和梯度线圈系统(22)去耦合,以及-第二分析单元(80),用于为检查对象(41)的磁共振断层造影图像分析磁共振信号,其中-带状导体天线装置的每个导体(20)分别包括一个各自具有所属电子单元(12)的Gamma射线检测器单元(11),以及-带状导体天线装置的导体(20)为相应的Gamma射线检测器单元(11)及其所属电子单元(12)构造成不能被高频天线装置(20)引起的高频射线穿透的屏蔽罩。
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