[发明专利]制造半导体器件的方法以及用于该方法的导电组合物无效

专利信息
申请号: 200610074807.5 申请日: 2006-04-14
公开(公告)号: CN1873836A 公开(公告)日: 2006-12-06
发明(设计)人: Y·L·王;R·J·S·扬;A·F·卡洛尔;K·W·汉 申请(专利权)人: E.I.内穆尔杜邦公司
主分类号: H01B1/20 分类号: H01B1/20;H01B1/14;C03C3/062;H01L31/0224;H01L31/18;H01L21/28
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 代理人: 徐迅
地址: 美国特*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 发明涉及一种厚膜导电组合物,其含有:(a)导电银粉;(b)含锌添加剂,其中所述含锌添加剂的粒径为7纳米-小于100纳米;(c)玻璃料,其中所述玻璃料的软化点为300-600℃;(d)有机介质,其中(a)、(b)、(c)分散在(d)中。本发明还涉及一种半导体器件和从结构构件制造半导体器件的方法,所述结构构件由具有p-n结的半导体和形成于所述半导体主表面上的绝缘膜组成,所述方法包括以下步骤:(a)将上述的厚膜组合物施加于所述绝缘膜之上;和(b)烧制所述半导体、绝缘膜和厚膜组合物以形成电极。
搜索关键词: 制造 半导体器件 方法 以及 用于 导电 组合
【主权项】:
1.一种厚膜导电组合物,其包含分散于d)有机介质中的:a)导电银粉;b)含锌添加剂,所述含锌添加剂的粒径为7纳米-小于100纳米;c)玻璃料,所述玻璃料的软化点为300-600℃。
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