[发明专利]动态地隐藏存储器缺陷的方法及装置无效
| 申请号： | 200610074997.0 | 申请日： | 2002-01-23 |
| 公开（公告）号： | CN1838329A | 公开（公告）日： | 2006-09-27 |
| 发明（设计）人： | 陈韵琪 | 申请（专利权）人： | 旺宏电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/44 | 分类号： | G11C29/44;G06F11/26 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人： | 任默闻 |
| 地址： | 中国台湾新竹*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 一种动态地隐藏存储器缺陷的方法及装置，该存储器含有至少一缺陷存储区；在一实施例中，一存储区占用对照表包含复数个栏位，每一个栏位对应该存储器的一个存储区，在该存储器的初始测试程序中，将缺陷存储区所对应的占用对照表的栏位加以标示，使其被认为已经被占用，因而该缺陷存储区后续不再被使用；在另一实施例中，从一备用暂存器仓库选取假代存储区，每一个假代存储区对应一个缺陷存储器，后续对缺陷存储区的存取被重新指引至其对应的假代存储区。 | ||
| 搜索关键词： | 动态 隐藏 存储器 缺陷 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种动态地隐藏存储器缺陷的装置，其特征是：该存储器含有复数个存储区，该装置包括：一备用暂存器仓库；及一错误存储区记录/控制装置，以记录缺陷存储区的地址，并从该备用暂存器仓库选取一假代存储区对应该缺陷存储区，对于该缺陷存储区的存取将被重新导引至该假代存储区。
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