[发明专利]集成电路结构及其制造方法有效

专利信息
申请号: 200610075487.5 申请日: 2006-04-20
公开(公告)号: CN101060119A 公开(公告)日: 2007-10-24
发明(设计)人: 郑朝华 申请(专利权)人: 联华电子股份有限公司
主分类号: H01L27/02 分类号: H01L27/02;H01L23/532;H01L29/872;H01L21/82;H01L21/329;H01L21/768
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 陶凤波;侯宇
地址: 中国台湾新竹*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 一种集成电路结构,此结构包括基底、接触窗与肖特基接触金属层。基底上已形成有重掺杂区与轻掺杂区。接触窗设置于重掺杂区上,而肖特基接触金属层则设置于轻掺杂区上,与基底构成肖特基二极管。其中,接触窗的材料与肖特基接触金属层的材料不同。
搜索关键词: 集成电路 结构 及其 制造 方法
【主权项】:
1.一种集成电路结构,包括:基底,该基底上已形成有重掺杂区与轻掺杂区;接触窗,设置于该重掺杂区上;以及肖特基接触金属层,设置于该轻掺杂区上,与该基底构成肖特基二极管,其中,该接触窗的材料与该肖特基接触金属层的材料不同。
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