[发明专利]非接触测试和诊断不探查节点上的开路连接的方法和装置无效

专利信息
申请号: 200610076758.9 申请日: 2006-04-18
公开(公告)号: CN1892242A 公开(公告)日: 2007-01-10
发明(设计)人: 肯尼思·P·帕克;迈伦·J·斯楚内德尔 申请(专利权)人: 安捷伦科技有限公司
主分类号: G01R31/04 分类号: G01R31/04;G01R31/28
代理公司: 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 代理人: 王怡
地址: 美国加利*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 发明提出了一种方法和装置,用于利用电容引线框架技术来检测电气设备的被测不探查节点上的开路缺陷。根据本发明的方法,利用已知的源信号来激励与被测不探查节点相邻的被探查节点。容性感测探针的传感器被容性耦合到至少电气设备的被测不探查节点和被探查节点,而耦合到容性感测探针的测量设备测量在探针的传感器和至少电气设备的不被探查节点和被探查节点之间的容性耦合信号。基于该容性感测信号的值、已知的预期的“无缺陷”容性感测信号测量结果、和/或已知的预期的“开路”容性感测信号测量结果,来判断电气设备的被测不探查节点上是否存在开路缺陷。
搜索关键词: 接触 测试 诊断 探查 节点 开路 连接 方法 装置
【主权项】:
1.一种用于检测电气设备的被测不探查节点上的开路缺陷的方法,该方法包括以下步骤:利用已知的源信号激励所述电气设备的与所述被测不探查节点相邻的被探查节点;容性感测代表所述电气设备和容性感测探针的传感器之间的有效电容的信号;以及基于所述容性感测信号来判断所述被测不探查节点上是否存在开路缺陷。
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