[发明专利]倒装芯片发光二极管及其制造方法无效
申请号: | 200610076901.4 | 申请日: | 2006-04-25 |
公开(公告)号: | CN1858921A | 公开(公告)日: | 2006-11-08 |
发明(设计)人: | 黄硕珉;金制远;朴英豪;高健维;金智烈;朴正圭;闵垘基 | 申请(专利权)人: | 三星电机株式会社 |
主分类号: | H01L33/00 | 分类号: | H01L33/00 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 李伟 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | 本发明涉及倒装芯片发光二极管及其制造方法,可以将集中在邻近n型电极的部分上的电流引导至发光部的中心,因此增强电流散布效应,从而提高发光二极管芯片的发光效率。制造倒装芯片发光二极管的方法包括:在光学透明衬底上顺序形成n型氮化物半导体层、有源层、和p型氮化物半导体层;蚀刻有源层和p型氮化物半导体层的预定区域,并露出n型氮化物半导体层的多个区域,以形成多个台面;蚀刻位于形成的台面之间的有源层和p型氮化物半导体层的预定区域,并露出n型氮化物半导体层的多个区域,以形成多个凹槽;在凹槽表面上形成绝缘层;越过p型氮化物半导体层的上部和在凹槽表面上形成的绝缘层,形成p型电极;以及在形成的台面上形成n型电极。 | ||
搜索关键词: | 倒装 芯片 发光二极管 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
1.一种制造倒装芯片发光二极管的方法,包括:在光学透明衬底上顺序形成n型氮化物半导体层、有源层、和p型氮化物半导体层;蚀刻所述有源层和p型氮化物半导体层的预定区域并且露出所述n型氮化物半导体层的多个区域,以形成多个台面;蚀刻位于所形成的台面之间的所述有源层和p型氮化物半导体层的预定区域,并且露出所述n型氮化物半导体层的多个区域,以形成多个凹槽;在所述凹槽的表面上形成绝缘层;越过所述p型氮化物半导体层的上部和在所述凹槽的表面上形成的所述绝缘层,形成p型电极;以及在所形成的台面上形成n型电极。
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