[发明专利]通过重复数据的使用而提高熔丝编程产率的方法和装置

摘要

测试集成电路存储器，以发现有缺陷存储元件。为了更换有缺陷存储元件，选择备用存储元件，并且生成串，来表示哪些备用存储元件更换哪些有缺陷存储元件。该串的位数取决于有多少存储元件有缺陷。虽然特定数目的存储元件有缺陷，其中该数目决定串位数，但是响应于相对于二进制串位数有多少熔丝可用于编程，而确定集成电路上要编程的熔丝的数目。也就是，如果相对于串位数，大于特定阈值数目的熔丝可用(这是优选的)，则大于该阈值数目的熔丝被编程。相反，则仅仅该特定阈值数目的熔丝被编程。

主权项

1.一种用于对熔丝进行编程以更换集成电路的有缺陷存储元件的方法，其中该集成电路包括备用存储元件，该方法包括：a)对集成电路的特定存储元件执行测试，以发现有缺陷存储元件；b)选择一个或多个备用存储元件，以更换一个或多个有缺陷存储元件；c)生成表示哪些备用存储元件已被选择来更换哪些有缺陷存储元件的二进制串，其中该串具有多位，该位数取决于有多少特定存储元件有缺陷；d)确定在集成电路上有多少熔丝可用于提供该串的记录；以及e)响应于该串的位数以及有多少熔丝可用，而将该串记录在多个熔丝中，其中响应于确定相对于串位数大于特定阈值数目的可用熔丝的可用性，而将该串记录在大于该阈值数目的熔丝中。