[发明专利]存储单元阵列及其制造方法无效

专利信息
申请号: 200610077846.0 申请日: 2006-05-08
公开(公告)号: CN1933160A 公开(公告)日: 2007-03-21
发明(设计)人: D·曼格尔;S·施勒萨策克;S·泰根;K·米姆勒;A·西克 申请(专利权)人: 英飞凌科技股份公司
主分类号: H01L27/108 分类号: H01L27/108;H01L21/8242
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 张雪梅;张志醒
地址: 德国*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 存储单元阵列包括其中形成了多个存储单元的多个有源区域。存储单元包括存储电容器、至少部分地形成于具有衬底表面的半导体衬底中的晶体管,该晶体管包括第一源/漏区。第二源/漏区与衬底表面相邻地形成,沟道区连接第一和第二源/漏区。该第一源/漏区与衬底表面相邻地形成。该沟道区设置在半导体衬底以及栅电极中。多行有源区域通过沿着第一方向延伸的隔离槽相互隔离。第一和第二字线设置在多行有源区域中每一个的两横向侧上。该第一和第二字线通过相应行有源区域的晶体管的栅电极相互连接。
搜索关键词: 存储 单元 阵列 及其 制造 方法
【主权项】:
1.一种具有多个存储单元的存储单元阵列,该存储单元阵列包括:多个有源区域,形成于具有衬底表面的半导体衬底中,每一个有源区域具有沿着第一方向延伸的两个横向侧,多行有源区域通过沿着第一方向延伸的隔离槽相互分离,每个存储单元包括存储电容器,晶体管,至少部分地形成于有源区域中的一个中,该晶体管包括第一源/漏区,其与存储电容器的电极连接,第一源/漏区与衬底表面相邻地形成,第二源/漏区,与衬底表面相邻地形成,沟道区,连接第一和第二源/漏区,该沟道区设置在有源区域中,该沟道区沿着第一方向延伸;和栅电极,沿着沟道区设置且通过栅隔离层与沟道区电性隔离,该栅电极控制在第一和第二源/漏区之间流动的电流,其中第一和第二字线设置在该多行有源区域的每一行的两横向侧上,该第一和第二字线通过相应行有源区域的晶体管的栅电极相互连接。
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