[发明专利]借助X射线检验装置对检验部件进行自动缺陷识别的方法有效
| 申请号： | 200610078929.1 | 申请日： | 2006-04-27 |
| 公开（公告）号： | CN1854723A | 公开（公告）日： | 2006-11-01 |
| 发明（设计）人： | 克劳斯·巴芬迪克;弗兰克·黑罗尔德 | 申请（专利权）人： | 依科视朗国际射线有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/18 | 分类号： | G01N23/18;G01N23/04 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 | 代理人： | 王艳江;杨生平 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 本发明涉及借助X射线检验装置对检验部件进行自动缺陷识别的方法，该X射线检验装置具有X射线管、检测器以及用于在X射线检验装置的光路中安置检验部件的机械操纵器，其中将该检验部件的定位图与理想的参考图进行比较。根据本发明首先计算旋转轴、转角以及移动向量，以实现检验部件的定位图与理想参考图的精确的一致性，随后旋转轴、转角以及移动向量的值被传送到机械操纵器，并且该操纵器将检验部件送到相应于这些值的位置，并且在该位置由在X射线检验装置中的X射线生成检验部件的比较图，该比较图用于与X射线参考图比较。 | ||
| 搜索关键词： | 借助 射线 检验 装置 部件 进行 自动 缺陷 识别 方法 | ||
【主权项】：
1.一种借助X射线检验装置对检验部件进行自动缺陷识别的方法，该X射线检验装置具有X射线管、检测器以及用于在X射线检验装置的光路中安置检验部件的机械操纵器，其中该检验部件的定位图与理想的参考图进行比较，其特征在于，计算旋转轴、转角以及移动向量，以实现检验部件的定位图与理想参考图的精确的一致性，随后将旋转轴、转角以及移动向量的值传送到机械操纵器，并且该操纵器将检验部件送到相应于这些值的位置，并且在该位置借助在X射线检验装置中的X射线生成该检验部件的比较图，该比较图用于与X射线参考图进行比较。
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