[发明专利]成像装置分析系统和成像装置分析方法无效
| 申请号： | 200610079370.4 | 申请日： | 2006-02-08 |
| 公开（公告）号： | CN1856121A | 公开（公告）日： | 2006-11-01 |
| 发明（设计）人： | T·L·科勒;S·D·施特克尔;J·M·迪卡洛;L·格曼;G·J·迪斯波托;E·蒙特戈梅里;C·L·米勒 | 申请（专利权）人： | 惠普开发有限公司 |
| 主分类号： | H04N17/00 | 分类号： | H04N17/00 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 张志醒 |
| 地址： | 美国德*** | 国省代码： | 美国;US |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本公开说明了成像装置分析系统100和成像装置分析方法。根据一个实施例，成像装置分析系统100包括光源154，和与光源154耦合的、且配置成控制光源154以光学方式将光116传送到成像装置114的处理电路，其中，光源154配置成为分析成像装置114的至少一个成像部件而输出光116，而成像装置114配置成响应接收的光116产生图像，且上述处理电路进一步配置成通过成像装置114访问成像装置114产生的图像数据和处理图像数据114来分析至少一个成像部件的运行状况，而上述图像数据是成像装置114响应对来自光源154的光116的接收而产生的。 | ||
| 搜索关键词： | 成像 装置 分析 系统 方法 | ||
【主权项】：
1.一种成像装置分析系统100，包括：光源154，配置成输出用于分析成像装置114的至少一个成像部件的光116，其中，所述成像装置114配置成响应所接收的光116而产生图像；和与所述光源154耦合的处理电路，配置成控制所述光源154以光学方式将所述光116传送到所述成像装置114，其中，所述处理电路还配置成访问图像数据，所述图像数据由所述成像装置114响应它对来自所述光源154的光116的接收而产生，并处理所述图像数据以分析至少一个成像部件的运行状况。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于惠普开发有限公司，未经惠普开发有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200610079370.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
