[发明专利]液晶离子密度测量方法有效
| 申请号： | 200610080107.7 | 申请日： | 2006-04-28 |
| 公开（公告）号： | CN1844975A | 公开（公告）日： | 2006-10-11 |
| 发明（设计）人： | 廖经玮;朱岳希 | 申请（专利权）人： | 友达光电股份有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 陶凤波;侯宇 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种液晶离子密度测量方法，适用于一液晶显示面板。液晶显示面板包括液晶层，液晶层夹设于第一基板及第二基板之间。首先，移除第二基板并加热第一基板，使得第一基板的内侧表面上的液晶层挥发。接着，滴入萃取液于第一基板的内侧表面上，并收集萃取液。 | ||
| 搜索关键词： | 液晶 离子 密度 测量方法 | ||
【主权项】：
1.一种液晶离子密度测量方法，适用一液晶显示面板，该液晶显示面板包括一液晶层，夹设于一第一基板及一第二基板之间，包括：移除该第二基板并加热该第一基板，使得该第一基板的一内侧表面上的该液晶层挥发；滴入一萃取液于该第一基板的该内侧表面上；以及收集该萃取液。
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