[发明专利]周缘曝光装置、涂敷显影装置及周缘曝光方法有效

专利信息
申请号: 200610080318.0 申请日: 2006-05-09
公开(公告)号: CN1862387A 公开(公告)日: 2006-11-15
发明(设计)人: 岩下泰治;下村一郎 申请(专利权)人: 东京毅力科创株式会社
主分类号: G03F7/20 分类号: G03F7/20;G03F7/30
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 张天安
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明中包括:第1光路形成部件和第2光路形成部件,各自的入口侧配置在来自光源的光电子束的通路内;第1放置台,放置基板,绕垂直轴自由旋转,并且基板的周缘部位于来自第1光路形成部件的出口侧的光电子束照射区域;第2放置台,基板的周缘部位于来自第2光路形成部件的出口侧的光电子束照射区域;遮光机构,用于遮挡来自第1和第2光路形成部件的光的照射。由于可例如可采用共通的光源对第1放置台和第2放置台上的基板进行周缘曝光,所以具有较强的处理能力,并且能够抑制装置的大型化。
搜索关键词: 周缘 曝光 装置 显影 方法
【主权项】:
1.一种周缘曝光装置,通过曝光用的光源对形成有感光性薄膜的基板的周缘部进行曝光,其特征是,包括:第1光路形成部件和第2光路形成部件,各自的入口侧配置在来自所述光源的光电子束内;第1放置台,放置基板,绕垂直轴自由旋转,并且设置成该基板的周缘部位于来自所述第1光路形成部件的出口侧的光电子束照射区域;第2放置台,放置基板,绕垂直轴自由旋转,并且设置成该基板的周缘部位于来自所述第2光路形成部件的出口侧的光电子束照射区域;遮光机构,用于遮挡来自第1光路形成部件和第2光路形成部件的光的照射。
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