[发明专利]光学拾取装置无效
申请号: | 200610082775.3 | 申请日: | 2006-05-25 |
公开(公告)号: | CN1873797A | 公开(公告)日: | 2006-12-06 |
发明(设计)人: | 堀田徹;川崎良一;中村滋 | 申请(专利权)人: | 三洋电机株式会社 |
主分类号: | G11B7/125 | 分类号: | G11B7/125;G11B7/135 |
代理公司: | 北京纪凯知识产权代理有限公司 | 代理人: | 程伟;王锦阳 |
地址: | 日本国大阪府守*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 第一激光源设置在偏振分光镜的透射侧,而第二激光源设置在偏振分光镜的反射侧。偏振分光镜的分光面具有这样的膜特性,即,基本上透射由第一激光源发射的第一波长激光的S偏振成分,和基本上反射由第二激光源发射的第二波长激光的S偏振成分。片状分光镜通过引导激光离开激光源所在的光路而用于将离开信号记录介质反射回的激光引入光学检测器。片状分光镜包括反射率高于其透射率的分光面。 | ||
搜索关键词: | 光学 拾取 装置 | ||
【主权项】:
1.一种光学拾取装置,包括:第一激光源,其发射第一波长的激光;和第二激光源,其设置在所述第一激光源的光路之外的光路上,并且发射不同于所述第一波长的第二波长的激光;其中所述光学拾取装置被这样构成,即,使从所述第一和第二激光源发射的每束激光光线通过偏振分光镜被导入公共光路中,被导入所述公共光路中的激光被片状分光镜反射,从而被引导到物镜,然后,激光被所述物镜会聚、并且照射到信号记录介质上,而离开所述信号记录介质反射回的激光透过所述片状分光镜,并且被引导到光学检测器;所述第一激光源被设置在所述偏振分光镜的透射侧上,而所述第二激光源被设置在所述偏振分光镜的反射侧上;所述偏振分光镜包括基本上透射所述第一波长的激光的S偏振成分和基本上反射所述第二波长的激光的S偏振成分的分光面;和所述片状分光镜包括反射率高于其透射率的分光面。
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