[发明专利]具有增强的抛光均匀性的二氧化铈浆液组合物无效

专利信息
申请号: 200610083480.8 申请日: 2006-05-30
公开(公告)号: CN1872900A 公开(公告)日: 2006-12-06
发明(设计)人: 朴钟大;孔铉九;李凤祥;孙祯炫 申请(专利权)人: 株式会社东进世美肯
主分类号: C08J5/14 分类号: C08J5/14
代理公司: 北京英赛嘉华知识产权代理有限责任公司 代理人: 王达佐;韩克飞
地址: 韩国仁*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要: 公开了化学机械抛光(CMP)浆液组合物。该化学机械抛光浆液(CMP)组合物包括:二氧化铈研磨剂;重均分子量为50,000-500,000的聚羧酸或其盐;醇化合物和水。优选地,相对于总的浆液组合物,该二氧化铈研磨剂的量为0.1-20%重量比,该聚羧酸或其盐的量为0.01-20%重量比,该醇化合物的量为0.001-10%重量比,且该浆液组合物具有5-10的pH值。该CMP浆液组合物用于STI(浅槽隔离)方法的CMP过程以形成多层结构,增强抛光均匀性,并抑制晶片的凹陷和侵蚀。
搜索关键词: 具有 增强 抛光 均匀 氧化 浆液 组合
【主权项】:
1.化学机械抛光浆液组合物,包括:二氧化铈研磨剂;重均分子量为50,000-500,000的聚羧酸或其盐;醇化合物和水。
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