[发明专利]具有轴上和离轴传感器的x光检查系统无效
| 申请号： | 200610083696.4 | 申请日： | 2006-06-02 |
| 公开（公告）号： | CN1873370A | 公开（公告）日： | 2006-12-06 |
| 发明（设计）人： | 迪安·C·巴克;特蕾西·艾拉森;安东尼·C·特纳;罗纳德·K·奎斯特尔 | 申请（专利权）人： | 安捷伦科技有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/00 | 分类号： | G01B11/00 |
| 代理公司： | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 王怡 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本发明公开了一种x光检查系统。该x光检查系统包括x光源、轴上x光传感器、至少一个离轴x光传感器、支架和累积电路。所述轴上x光传感器被配置用于捕获来自x光源的辐射的轴上图像。x光源与轴上x光传感器相分离，并且x光源和轴上x光传感器被放置在在概念上绘制在x光源和轴上x光传感器之间的轴上。所述至少一个离轴x光传感器被配置为捕获来自x光源的辐射的离轴图像，其中每个离轴x光传感器被放置在离开所述轴的位置上。所述支架被配置用于在x光源和轴上与离轴x光传感器之间支撑物品，并且所述累积电路被配置用于接收和累积由轴上和离轴x光传感器捕获的图像。 | ||
| 搜索关键词： | 具有 传感器 检查 系统 | ||
【主权项】：
1.一种x光检查系统，包括：x光源；轴上x光传感器，其被配置用于捕获来自所述x光源的辐射的轴上图像，其中所述x光源与所述轴上x光传感器相分离，其中所述x光源和所述轴上x光传感器被放置在在概念上绘制在所述x光源和所述轴上x光传感器之间的轴上，并且其中所述轴上x光传感器的表面位于这样的平面内，该平面的法线基本上平行于所述轴；至少一个离轴x光传感器，其被配置为捕获来自所述x光源的辐射的离轴图像，其中每个离轴x光传感器被放置在离开所述轴的位置上；支架，其被配置用于在所述x光源和所述轴上和离轴x光传感器之间支撑物品；以及累积电路，其被配置用于接收和累积由所述轴上和离轴x光传感器捕获的图像。
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