[发明专利]可同时多颗平行置入测试的IC检测机

摘要

本发明是一种可同时多颗平行置入测试的IC检测机，其主要是由输入端IC输送机构将供料匣上的待测IC吸取移置到可同时承置多颗的待测IC的第一载送治具，再利用轨道传送机构将第一载送治具直接移送到测试埠内，以测试埠内的吸嘴将多颗的待测IC吸起，并下降将多颗的待测IC压入测试板，以同时进行测试作业，在完成测试作业后，吸嘴上升吸起多颗的完测IC，下降将多颗的完测IC置入第二载送治具，再移出测试埠，以输出端IC输送机构将各完测的IC进行分类取放在各收料匣内；如此，可同时将多颗IC移送到测试埠进行测试，不仅可大幅缩减IC交换取放移置的时间，也可有效缩减IC测试的时间，进而有效提升测试的产能，提高使用效益。

主权项

1.一种可同时多颗平行置入测试的IC检测机，其主要包括有：至少一供料匣：是承置有复数个待测的IC；至少一收料匣：是供承置完测的IC；至少一测试埠：是装设有连结测试讯号到中央控制器的测试板，所述的测试板上并设有可供待测IC置入以进行IC的测试作业的复数个测试座；轨道传送机构：是架设在测试埠的周侧；第一载送治具：是承置在轨道传送机构的一侧，而可由轨道传送机构移送到入料区与测试区间，以进行入料与测试作业，所述的第一载送治具并排列设有可以同时承置多颗待测IC的复数个承置座；第二载送治具：是承置在轨道传送机构的另一侧，而可由轨道传送机构移送到出料区与测试区之间，以进行出料作业，所述的第二载送治具并排列设有可以同时承置多颗完测IC的复数个承置座；至少一IC输送机构：是设有可作多方向位移而可在供料匣、收料匣与第一、第二载送治具之间吸取移置IC的取放头。