[发明专利]在光致抗蚀层中形成图像的方法无效

专利信息
申请号: 200610085093.8 申请日: 2006-05-31
公开(公告)号: CN1873536A 公开(公告)日: 2006-12-06
发明(设计)人: D·L·戈德法布;S·J·霍姆斯;D·A·科利斯;D·吉奥;D·施奈德;K·希梅尔;D·V·霍拉克;K·E·彼得里洛 申请(专利权)人: 国际商业机器公司
主分类号: G03F7/16 分类号: G03F7/16;G03F7/20;G03F7/42;H01L21/00
代理公司: 北京市中咨律师事务所 代理人: 林柏楠;隗永良
地址: 美国*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 一种在光致抗蚀层中形成图像的方法。该方法包括提供基材;在基材上形成光致抗蚀层;在光致抗蚀层上形成污染吸除面层,该污染吸除面层包括一种或多种聚合物和一种或多种阳离子络合剂;透过含有不透明和透明区域的光掩模使光致抗蚀层暴露在光化辐射下,不透明区域遮蔽了光化辐射而透明区域可透过光化辐射,光化辐射改变了光致抗蚀层中受到辐射的区域的化学组成,从而在光致抗蚀层中形成曝光和未曝光区域;以及去除光致抗蚀层的曝光区域或光致抗蚀层的未曝光区域。污染吸除面层包括一种或多种聚合物、一种或多种阳离子络合剂和铸膜溶剂。
搜索关键词: 光致抗蚀层中 形成 图像 方法
【主权项】:
1.一种在光致抗蚀层中形成图像的方法,包括:提供基材;在所述基材上形成所述光致抗蚀层;在所述光致抗蚀层上形成污染吸除面层,所述污染吸除面层包括一种或多种聚合物和一种或多种阳离子络合剂;透过具有不透明和透明区域的光掩模使所述光致抗蚀层暴露在光化辐射下,所述不透明区域遮蔽所述光化辐射而所述透明区域可透过所述光化辐射,所述光化辐射改变了所述光致抗蚀层中受到所述辐射的区域的化学组成,从而在所述光致抗蚀层中形成曝光和未曝光区域;以及去除所述光致抗蚀层的所述曝光区域或所述光致抗蚀层的所述未曝光区域。
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