[发明专利]一种拜耳法生产氧化铝种分粒度控制方法无效
申请号: | 200610086894.6 | 申请日: | 2006-06-22 |
公开(公告)号: | CN1974395A | 公开(公告)日: | 2007-06-06 |
发明(设计)人: | 孙兆学;顾松青;丁安平;李少康;梁春来;李光柱;赵培生;赵清杰;于斌;李文化;郭晋梅;康智明;张学超;焦淑红;娄世彬;李明 | 申请(专利权)人: | 中国铝业股份有限公司 |
主分类号: | C01F7/02 | 分类号: | C01F7/02 |
代理公司: | 中国有色金属工业专利中心 | 代理人: | 李迎春 |
地址: | 100814北京市海淀*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 一种拜耳法生产氧化铝种分粒度控制方法,涉及一种采用铝土矿为原料生产氧化铝的生产方法。其特征在于对分解工艺条件下,对分解系统的氢氧化铝进行筛分析、马尔文激光粒度分析、库尔特粒度分析,建立分解工艺条件及粒度分析结果的数据库,对系统粒度变化趋势进行超前预测,准确把握调整时机和力度,对分解系统各项参数进行适时适量的调控,保证系统粒度分布平衡。本发明通过对分解系统工艺参数的变化即可实现拜耳法晶种分解过程系统氢氧化铝粒度分布在合理的范围内平衡控制,对稳步提高我国氧化铝产品质量有着非常重要的意义,其应用前景广阔。 | ||
搜索关键词: | 一种 拜耳法 生产 氧化铝 粒度 控制 方法 | ||
【主权项】:
1.一种拜耳法生产氧化铝种分粒度控制方法,其特征在于控制过程包括:a.在一定的拜耳法生产氧化铝种分工艺条件下,测试种分过程的多个时刻的粒度的筛分测试结果值,将对应时刻的马尔文全粒度重量分布值、库尔特粒度的颗粒分布值,建立数据库,绘制粒度变化的历史曲线;采用库尔特粒度分析仪分建立的细粒子分布特征图、峰及百分含量和变化趋势图,用以预测系统粒度变化趋势及范围;b.拜耳法生产氧化铝种分生产过程中,根据库尔特粒度仪细颗粒分布图形、特征值和马尔文粒度分析仪-25μm细粒子变化趋势和范围,结合筛分粒度的变化,判断分解系统氢氧化铝粒度变化趋势,对种分过程工艺条件进行调控。
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