[发明专利]适于硬件加速的指纹粗比对方法及装置有效
申请号: | 200610086958.2 | 申请日: | 2006-06-20 |
公开(公告)号: | CN1862562A | 公开(公告)日: | 2006-11-15 |
发明(设计)人: | 蔡安妮;苏菲;邱超;陈增茂;赵德群 | 申请(专利权)人: | 北京邮电大学 |
主分类号: | G06K9/00 | 分类号: | G06K9/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 100876北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明提出了一种全新的适用于硬件加速的指纹比对方法。该方法采用超标量、超流水的结构,在提高比对速度的同时保证了比对的准确性。首先进行基于特征边的比对,然后根据匹配的特征边组成要比对的特征三角形,再进行特征三角形比对,得到库指纹与现场指纹三角形的偏移信息。本发明提出的这种由边过渡到三角形的逐级比对的方法,大幅度减少了需要比对的特征三角形的数量,提高了比对速度;同时提出的偏移量的计算方法提高了指纹比对的剔除率和偏移量计算的准确性。基于上述指纹比对方法,本发明研制出了一种基于FPGA的指纹比对加速卡。这种流水线加并行处理的算法结构极大地提高了比对的效率。 | ||
搜索关键词: | 适于 硬件加速 指纹 方法 装置 | ||
【主权项】:
1.一种用于将现场指纹与存储的库指纹进行快速粗比对,计算出现场指纹相对库指纹的偏移量(Δθ,ΔX,ΔY)的方法,该方法包括:由库指纹的特征点生成要比对的库指纹三角形,并将库指纹三角形和现场指纹三角形进行比对,进而计算出三角形偏移信息的方法;和根据一枚库指纹的库指纹三角形与现场三角形的偏移信息,计算出现场指纹相对该枚库指纹的偏移量(Δθ,ΔX,ΔY)的方法。
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