[发明专利]半导体IC、具有嵌入半导体IC的模块以及它们的制造方法无效

专利信息
申请号: 200610088521.2 申请日: 2006-06-01
公开(公告)号: CN1873980A 公开(公告)日: 2006-12-06
发明(设计)人: 川畑贤一;阿部寿之 申请(专利权)人: TDK株式会社
主分类号: H01L27/02 分类号: H01L27/02;H01L23/367;H01L23/31;H01L21/82;H01L21/56
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 代理人: 李辉
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 半导体IC、具有嵌入半导体IC的模块以及它们的制造方法。一种半导体IC包括:主体,其主表面上形成有预定电路;金属层,其选择性设置在该半导体IC主体的除了周边以外的基本上整个背面上。根据本发明,设置在该半导体IC主体上的金属层可以很大程度地散热。因为该金属层是选择性地设置的,所以即使在通过研磨使半导体IC主体变薄时,也不容易在晶片状态下出现翘曲。该金属层选择性地设置在半导体IC的背面的中心处。因此,无需对半导体晶片和厚金属的叠层进行切割。结果,可以有效地防止断面上的碎裂。
搜索关键词: 半导体 ic 具有 嵌入 模块 以及 它们 制造 方法
【主权项】:
1、一种半导体集成电路,其包括:主体,其主表面上形成有预定电路;以及金属层,其选择性地设置在所述主体的背面的中心处。
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