[发明专利]用于在集成电路装置上存储阵列冗余数据的装置和方法

摘要

提供了一种使用单组电熔丝(eFuses)连续地存储由多个测试阶段获得的测试数据的装置和方法。为了在相同eFuses组中编码和存储来自每个后续测试的阵列冗余数据，使用扫描链上的锁存器，保持用于每个eFuse的编程信息。所述锁存器允许在每个测试阶段过程中仅仅编程部分eFuses。而且，在eFuses中编程的数据可以被检测和读出作为扫描链的一部分。因此，可以容易地确定eFuses组的哪些部分已被先前测试阶段编程和在哪里开始将下一组数据编程到eFuses组中。结果，单组eFuses存储来自多个测试阶段的多组数据。

主权项

1.一种集成电路装置上的装置，用于在所述集成电路装置上存储阵列冗余数据，包括：单组存储器件，用于存储用于所述集成电路装置的多个测试阶段的阵列冗余数据；以及控制逻辑，用于控制在所述单组存储器件中存储的编码阵列冗余数据的解码，其中在所述单组存储器件中存储的所述编码阵列冗余数据是由在所述集成电路装置上提供的一个或多个器件阵列的多个测试阶段产生的阵列冗余数据。