[发明专利]自动分析装置有效
申请号: | 200610088590.3 | 申请日: | 2006-06-06 |
公开(公告)号: | CN101042407A | 公开(公告)日: | 2007-09-26 |
发明(设计)人: | 大内胜美;三卷弘 | 申请(专利权)人: | 株式会社日立制作所 |
主分类号: | G01N35/00 | 分类号: | G01N35/00;G01N33/50;G01N21/31 |
代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 | 代理人: | 张敬强 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明的目的在于提供通过简单的操作进行装置的性能检查的自动分析装置。所采用的方法是,使用与样品分析用试剂卡盘外形相同的性能检查用卡盘来进行装置的性能检查。性能检查用卡盘保持装置的性能检查用试剂,同时,以二维条码的方式保持处理条件以及判断条件。自动分析装置根据记录在性能检查用卡盘中的处理条件,使用密封进性能检查用卡盘中的试剂进行吸光度测量,把测量结果与记录在性能检查用卡盘中的判断条件进行对照来进行装置性能检查。 | ||
搜索关键词: | 自动 分析 装置 | ||
【主权项】:
1.一种自动分析装置,其特征在于,具有:卡盘保持部,其保持性能检查用卡盘,该性能检查用卡盘具有密封入了第1试剂的第1试剂反应容器、密封入了第2试剂的第2试剂反应容器、测光反应容器、以及记录有包括分析条件和与吸光度相关的判断条件的处理信息的信息记录部;探针,其把上述第1试剂和上述第2试剂分注到上述测光反应容器;光学测量部,其具有光源、波长选择部、以及光探测器,对上述性能检查用卡盘的测光反应容器进行吸光度测量;信息读取部,其读取在上述性能检查用卡盘的上述信息记录部中记录的上述处理信息;控制部,其根据用上述信息读取部读取的上述处理信息来控制上述探针以及上述光学测量部;计算部,其基于上述光学测量部的输出计算出上述性能检查用卡盘的上述测光反应容器内的溶液的吸光度;以及,判断部,其把上述计算出的吸光度与用上述信息读取部读取的上述判断条件进行对照来判断是否在容许范围内。
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