[发明专利]一种颗粒状测量装置及其原位测量方法无效

专利信息
申请号: 200610089384.4 申请日: 2006-06-23
公开(公告)号: CN1877337A 公开(公告)日: 2006-12-13
发明(设计)人: 魏飞;张强;钱震;蒋东;黄苍;魏小波 申请(专利权)人: 清华大学
主分类号: G01N35/00 分类号: G01N35/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100084北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种颗粒状测量装置及其原位测量方法,涉及颗粒信息的原位测量方法及装置。该装置将一个或多个传感器、微处理器、系统电源以及通讯设备置于颗粒状外壳内部,该颗粒本身能够感知颗粒自身的运动以及颗粒所在的场信息,这样既可以获得颗粒运动以及相关的信息,也可以获得颗粒某时刻所在的场信息。利用该颗粒状测量装置,可以实现一种原位测量方法,即将该颗粒装置作为研究对象,将其放置在待研究的场中,通过颗粒装置本身感知纪录其运动以及其所在场的相关信息。
搜索关键词: 一种 颗粒状 测量 装置 及其 原位 测量方法
【主权项】:
1.一种颗粒状测量装置,其特征在于:该装置包括等效直径为1~100mm的颗粒状外壳(1),传感器(2)、微处理器(3)、通讯设备(4)、系统电源以及存储设备(5),所述传感器采集的信号传输给微处理器,经微处理器处理后的信号通过通讯设备输入到存储设备,该存储设备采用内置或外置形式,所述的传感器、微处理器、通讯设备、系统电源封装在颗粒状外壳内。
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