[发明专利]利用深亚微米CMOS标准工艺实现的EEPROM电平转换电路及方法有效
申请号: | 200610089593.9 | 申请日: | 2006-07-05 |
公开(公告)号: | CN1885435A | 公开(公告)日: | 2006-12-27 |
发明(设计)人: | 邓志欣;廖怀林;李炎;黄如 | 申请(专利权)人: | 北京大学 |
主分类号: | G11C16/06 | 分类号: | G11C16/06;G11C11/56 |
代理公司: | 北京君尚知识产权代理事务所 | 代理人: | 贾晓玲 |
地址: | 100871*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明提供一种利用深亚微米CMOS标准工艺实现的EEPROM电平转换电路及方法。该电平转换电路完全采用CMOS标准工艺参数,利用两对PMOS管与NMOS管对电压进行钳位,从而保证了电路中所有的MOS管栅漏电压差|Vgd|或栅源电压差|Vgs|均小于栅氧可靠性要求的安全电压值。与传统电平转换电路相比,该电路极大地增加MOS管栅氧可靠性;同时,该电路结构由于完全采用深亚微米CMOS标准工艺,可以更加适合嵌入式EEPROM电路并降低电路成本。 | ||
搜索关键词: | 利用 微米 cmos 标准 工艺 实现 eeprom 电平 转换 电路 方法 | ||
【主权项】:
1、一种利用深亚微米CMOS标准工艺实现EEPROM的电平转换电路的方法,其步骤包括:在由PMOS管M1、M2与NMOS管M3、M4构成的双稳态电平转换电路中,在M1、M3间和M2、M4间分别增加一对PMOS管M5/M7和NMOS管M6/M8,M1-M8均采用深亚微米CMOS标准工艺下的I/O管参数,M5-M8栅接电压Vx用于电压钳位作用。
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