[发明专利]磁场测量装置有效
| 申请号： | 200610091686.5 | 申请日： | 2006-06-09 |
| 公开（公告）号： | CN1877354A | 公开（公告）日： | 2006-12-13 |
| 发明（设计）人： | 铃木大介 | 申请（专利权）人： | 株式会社日立高新技术 |
| 主分类号： | G01R33/02 | 分类号： | G01R33/02;H05K9/00 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 王永刚 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 如果磁屏蔽装置的圆筒的长度变短，则圆筒轴垂直分量的磁场从圆筒开口部进入的量变大，存在磁屏蔽效果降低的问题。在进行磁测定的两端形成为开放的筒型的第1磁屏蔽装置内，通过配置其两端或接近于测量对象物的1个方向形成为开放的筒型、筒轴方向与上述磁场检测方向大致平行、配置在上述第1磁屏蔽装置内、在筒内部配置上述磁传感器的第2磁屏蔽装置，在磁传感器周边屏蔽第1磁屏蔽装置不能屏蔽的磁场分量。 | ||
| 搜索关键词： | 磁场 测量 装置 | ||
【主权项】：
1.一种磁场测量装置，其特征在于，具有：第1磁屏蔽装置，其两端形成为开放的筒型；单个或多个磁传感器，其磁场检测方向配置成与上述第1磁屏蔽装置的筒轴方向大致正交，配置在上述第1磁屏蔽装置内；第2磁屏蔽装置，其两端或接近于测量对象物的1个方向形成为开放的筒型，筒轴方向与上述磁场检测方向大致平行，配置在上述第1磁屏蔽装置内，在筒内部配置上述磁传感器；以及运算单元，校正由上述第2磁屏蔽装置变形的、由上述磁传感器得到的信号。
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