[发明专利]半导体装置以及升压电路无效

专利信息
申请号: 200610093224.7 申请日: 2006-06-22
公开(公告)号: CN1905189A 公开(公告)日: 2007-01-31
发明(设计)人: 安食嘉晴 申请(专利权)人: 精工爱普生株式会社
主分类号: H01L27/04 分类号: H01L27/04;H01L29/00;H02M3/07
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 汪惠民
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 设置蓄积对应于直流电源(VDD)的电压的电荷的急充电容器(C1~C6)、将急充电容器(C1~C6)与直流电源(VDD)并联连接的开关(SW0~SW5、SW11~SW16)、将并联连接的急充电容器(C1~C6)以及直流电源(VDD)串联连接的开关(SW2~SW6、SW17),急充电容器(C1~C6)通过具有SOI结构的MOS电容器构成。从而本发明可抑制元件面积的增加,并且减少急充电容器的寄生电容。
搜索关键词: 半导体 装置 以及 升压 电路
【主权项】:
1、一种半导体装置,具备:BOX层,形成在半导体基板上;半导体层,形成在所述BOX层上;多个MOS电容器,形成在所述半导体层中;以及开关元件,形成在所述半导体基板中,将所述MOS电容器并联连接使得直流电压共同施加在所述MOS电容器上,并且进行切换使得所述并联连接的MOS电容器被串联连接。
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