[发明专利]光学分析仪有效

专利信息
申请号: 200610093274.5 申请日: 2006-06-23
公开(公告)号: CN1885011A 公开(公告)日: 2006-12-27
发明(设计)人: H·-J·许布纳;R·克拉格 申请(专利权)人: GFG工具制造有限责任公司
主分类号: G01N21/31 分类号: G01N21/31;G01J3/10;G01J3/42
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 蔡民军;胡强
地址: 德国多*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 一种光学分析仪(1),具有一带至少一个射线可穿透的壳体单元(3)的壳体(2)、至少一个第一射线源(4)和第一反射器(5)、一第二射线源(6)和一第二反射器(7)、至少一个第一检测器(8)和一个第二检测器(9)以及一个设置在壳体外部的反射器(10),其中射线源和检测器设置在壳体内部,由外部反射器和射线可穿透的壳体单元构成一吸收腔(11),由第一射线源和第一反射器发射的测量射线(12)在被外部反射器反射后重新进入壳体,第二射线源和第二反射器发射一基准射线(13),测量射线在穿过吸收腔后被设置在壳体内的测量射线反射器(14a、14b)直接偏转到第一检测器和第二检测器上,基准射线从第二射线源和第二反射器直接落在第一检测器和第二检测器上。
搜索关键词: 光学 分析
【主权项】:
1.根据射线吸收原理的光学分析仪,具有一带至少一个射线可穿透的壳体单元的壳体、至少一个第一射线源和一配设于它的第一反射器、一个第二射线源和一配设于它的第二反射器、至少一个第一检测器和一个第二检测器、以及一设置在壳体之外的外部反射器,其中射线源和检测器设置在所述壳体内,由外部反射器和射线可穿透的所述壳体单元构成一吸收腔,由第一射线源和第一反射器发射的测量射线在被外部反射器反射后重新进入壳体,第二射线源和第二反射器发射一基准射线,其特征为:该测量射线(12)在穿过吸收腔(11)后被设置在壳体(2)内的测量射线反射器(14a、14b)直接偏转到第一检测器(8)和第二检测器(9)上,基准射线(13)从第二射线源(6)和第二反射器(7)直接落在第一检测器(8)和第二检测器(9)上。
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