[发明专利]电容性物位测量或识别设备有效
申请号: | 200610093700.5 | 申请日: | 2006-06-13 |
公开(公告)号: | CN1880923A | 公开(公告)日: | 2006-12-20 |
发明(设计)人: | F·博恩德;J·冈德拉赫;W·霍赫 | 申请(专利权)人: | IFM电子股份有限公司 |
主分类号: | G01F23/24 | 分类号: | G01F23/24;G01F23/26 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 刘春元;魏军 |
地址: | 德国*** | 国省代码: | 德国;DE |
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摘要: | 一种电容性物位测量或识别设备,用于利用传感器元件、基准元件以及包含交流电压源和分析单元的电路来测量或识别在容器中的介质的物位,其中其物位要被测量或识别的介质能够影响在所述传感器元件和所述基准元件之间的阻抗,并且因此影响在所述传感器元件和所述基准之间的交流电流。为了在传感器元件和/或基准元件上有附着时也提供十分准确的结果,在本发明的电容性物位测量或识别设备中,由所述交流电压源所提供的交流电压是高频的或包含高频的电压成分,或者具有所述交流电压源、所述传感器元件和所述基准元件的电流回路以尽可能低的阻抗被实施。由此提供更精确的电容性物位测量或识别设备。 | ||
搜索关键词: | 电容 性物位 测量 识别 设备 | ||
【主权项】:
1.电容性物位测量或识别设备,用于利用传感器元件、基准元件以及利用一方面连接在所述传感器元件上而另一方面连接在所述基准元件上的包含至少一个交流电压源和一个分析单元的电路来测量或识别在容器或者诸如此类中的介质的物位,其中所述传感器元件和所述基准元件如此被构造和布置,使得其物位要被测量或识别的介质能够影响在所述传感器元件和所述基准元件之间的阻抗,并且因此影响在所述传感器元件和所述基准之间的(并且在所述电路中的)交流电流,其特征在于,由所述交流电压源(2)所提供的交流电压是高频的,或者包含高频的电压成分。
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