[发明专利]绝缘栅型半导体装置、制造方法及保护电路无效
申请号: | 200610094045.5 | 申请日: | 2006-06-22 |
公开(公告)号: | CN1885561A | 公开(公告)日: | 2006-12-27 |
发明(设计)人: | 石田裕康;万代忠男;牛田敦也;斋藤洋明 | 申请(专利权)人: | 三洋电机株式会社 |
主分类号: | H01L29/78 | 分类号: | H01L29/78;H01L21/336;H01L27/02;H02H9/00 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人: | 陶凤波;侯宇 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明涉及一种绝缘栅型半导体装置及其制造方法以及保护电路,在现有结构中,源极区域及体区域(背栅区域)与共同的源极电极接触,不能分别控制源极区域和背栅区域的电位。因此,在将这种MOSFET用于双向转换元件时,将两个MOSFET串联连接,由控制电路进行MOSFET的导通截止及寄生二极管的控制,阻碍了装置的小型化。设置与源极区域接触的第一电极层和与体区域(背栅)接触的第二电极层。第一电极层和第二电极层绝缘,分别沿与沟槽的延伸方向不同的方向延伸。可对第一电极层和第二电极层分别施加电位,进行防止因寄生二极管造成的逆流的控制。因此,可由一个MOSFET实现双向的转换元件。 | ||
搜索关键词: | 绝缘 半导体 装置 制造 方法 保护 电路 | ||
【主权项】:
1、一种绝缘栅型半导体装置,其特征在于,具有:漏极区域,其在一导电型半导体衬底上层积有一导电型半导体层;反向导电型沟道层,其设于所述半导体层表面;沟槽,其在所述半导体层表面沿第一方向延伸,具有贯通沟道层的深度;栅极绝缘膜,其设于该沟槽的内壁;栅极电极,其被埋入所述沟槽内;一导电型源极区域,其与所述沟槽相邻,设于所述沟道层表面;反向导电型体区域,其与所述沟槽及所述源极区域相邻,设于所述沟道层表面;第一电极层,其设于所述源极区域上,在所述半导体层表面沿第二方向延伸;第二电极层,其设于所述体区域上,在所述半导体层表面沿第二方向延伸。
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