[发明专利]产品产量预测的系统和方法无效
| 申请号： | 200610094131.6 | 申请日： | 2000-11-17 |
| 公开（公告）号： | CN1975741A | 公开（公告）日： | 2007-06-06 |
| 发明（设计）人： | 布赖恩·E.·斯泰恩;约翰·基巴里安;基蒙·米歇尔斯;乔·戴维斯;P.K.·摩祖姆德;谢丽·李;克里斯托弗·赫斯;拉格·威兰德;丹尼斯·J.·西普里卡斯;大卫·M.·斯塔绍尔 | 申请（专利权）人： | PDF全解公司 |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 李德山 |
| 地址： | 美国加*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 一种用于预测集成电路产量的系统和方法包括至少一种类型的特征化载体，它包括用于表示包括于集成电路最后产品中的至少一种类型特征的至少一个特征。该特征化载体经受至少一个组成将要用于制造集成电路产品制造周期的操作过程以便产生一个产量模型。该产量模型包含一个由该特征化载体所定义的布局，并且优选地包括有助于采集电气测试数据和以操作速度测试原型段的各特征。一个提取引擎从一个建议的产品布局中提取预定布局属性。该提取引擎在产量模型上操作而产生作为布局属性的函数的产量预测，并且被分解为制造过程中的各层或各步骤。这些产量预测然后被用于确定制造过程中哪些区域最需要改进。 | ||
| 搜索关键词： | 产品 产量 预测 系统 方法 | ||
【主权项】：
1.一种产生对于全部或部分集成电路的产量预测的方法，该方法包括：(a)使用来自集成电路的产品布局的布局特性，来识别产品布局的属性，其中所识别的属性能够表示系统产量损失；以及(b)使用与在产品布局中识别的属性相关的信息以及由产量模型所定义的参数作为输入，来产生产量预测，其中产量模型的参数表征了可能由实际制造处理引起的集成电路的一个部分或多个部分中的缺陷。
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