[发明专利]半色调型相移掩膜坯料、半色调型相移掩膜及其制造方法有效

专利信息
申请号: 200610094621.6 申请日: 2002-06-04
公开(公告)号: CN1896868A 公开(公告)日: 2007-01-17
发明(设计)人: 盐田勇树;野泽顺;大久保亮;三井英明 申请(专利权)人: HOYA株式会社
主分类号: G03F1/00 分类号: G03F1/00
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 汪惠民
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 一种半色调型相移掩膜坯料,是用于制造以下这种半色调型相移掩膜,即,所述半色调型相移掩膜在透明基板上具有透过曝光光的透光部、和在透过一部分曝光光的同时将透过光的相位以给定量位移的相移部,并且该半色调型相移掩膜具有在所述透光部和相移部边界部附近透过各处的光能够相互抵消的光学特性,能够良好地保持并改善转移到被曝光体表面的曝光图案边界部的对比度。其中,用于形成移相部的相移膜是由主要构成要素为硅、氧、及氮的膜,以及形成于所述膜和透明基板之间的刻蚀阻止膜构成。
搜索关键词: 色调 相移 坯料 及其 制造 方法
【主权项】:
1.一种半色调型相移掩膜坯料,是用于制造以下这种半色调型相移掩膜,即,所述半色调型相移掩膜在透明基板上具有使曝光光透过的透光部、和使一部分曝光光透过的同时使透过的光的相位以给定量位移的相移部,并且该半色调型相移掩膜具有在所述透光部和所述相移部边界部附近透过各处的光能够相互抵消的光学特性,能够良好地保持并改善转移到被曝光体表面的曝光图案边界部的对比度,其中,在透明基板上具有用于形成所述相移部的相移膜的半色调型相移掩膜坯料中,其特征在于:所述相移膜具有依次形成于透明基板上的第一层和第二层,所述第一层和第二层可用相同刻蚀介质进行连续刻蚀,所述第二层为实质上难以或不可能检测出对透明基板的刻蚀终点的材料,所述第一层为实质上能够检测出对透明基板的刻蚀终点的材料。
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