[发明专利]半色调型相移掩膜坯料、半色调型相移掩膜及其制造方法无效
申请号: | 200610094622.0 | 申请日: | 2002-06-04 |
公开(公告)号: | CN1924697A | 公开(公告)日: | 2007-03-07 |
发明(设计)人: | 盐田勇树;野泽顺;大久保亮;三井英明 | 申请(专利权)人: | HOYA株式会社 |
主分类号: | G03F1/00 | 分类号: | G03F1/00 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人: | 汪惠民 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 一种半色调型相移掩膜坯料,是用于制造以下这种半色调型相移掩膜,即,所述半色调型相移掩膜在透明基板上具有透过曝光光的透光部、和在透过一部分曝光光的同时将透过光的相位以给定量位移的相移部,并且该半色调型相移掩膜具有在所述透光部和相移部边界部附近透过各处的光能够相互抵消的光学特性,能够良好地保持并改善转移到被曝光体表面的曝光图案边界部的对比度。其中,用于形成移相部的相移膜是由主要构成要素为硅、氧、及氮的膜,以及形成于所述膜和透明基板之间的刻蚀阳止膜构成。 | ||
搜索关键词: | 色调 相移 坯料 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
1.一种半色调型相移掩膜坯料,是用于制造以下这种半色调型相移掩膜,即,所述半色调型相移掩膜在透明基板上具有使曝光光透过的透光部、和使一部分曝光光透过的同时使透过的光的相位以给定量位移的相移部,并且该半色调型相移掩膜具有在所述透光部和所述相移部边界部附近透过各处的光能够相互抵消的光学特性,能够良好地保持并改善转移到被曝光体表面的曝光图案边界部的对比度,其中,在透明基板上具有用于形成所述相移部的相移膜的半色调型相移掩膜坯料中,其特征在于:所述相移膜至少具有能够用氟系气体干式刻蚀进行刻蚀的上层和、形成于所述上层和透明基板之间,并且对所述氟系气体具有耐性,同时能够用使用不同于所述氟系气体的气体的干式刻蚀进行刻蚀的下层,所述下层材料由选自Al、Ga、Hf、Ti、V及Zr等第一组的金属单体或含有两种以上这些金属的材料(第一材料)构成,或者所述下层材料由在选自Cr、Ge、Pd、Si、Ta、Nb、Sb、Pt、Au、Po、Mo及W等第二组的一种金属中添加选自所述第一组的至少一种金属的材料(第二材料)构成,或者所述下层材料是由在所述金属单体、所述第一材料或第二材料中含有氮和或碳的材料构成。
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G03 摄影术;电影术;利用了光波以外其他波的类似技术;电记录术;全息摄影术
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1-00 用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
G03F1-20 .用于通过带电粒子束(CPB)辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如通过电子束;其制备
G03F1-22 .用于通过100nm或更短波长辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射线掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制备
G03F1-36 .具有临近校正特征的掩膜;其制备,例如光学临近校正(OPC)设计工艺
G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备
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