[发明专利]光学流速颗粒物浓度测量方法及装置无效
申请号: | 200610097516.8 | 申请日: | 2006-11-03 |
公开(公告)号: | CN1959373A | 公开(公告)日: | 2007-05-09 |
发明(设计)人: | 刘文清;张玉钧;陆亦怀;刘建国;曾宗泳;刘和来;江宇;詹锴;方武 | 申请(专利权)人: | 刘文清;张玉钧;陆亦怀;刘建国;曾宗泳;刘和来;江宇;詹锴;方武 |
主分类号: | G01N15/06 | 分类号: | G01N15/06;G01N21/00 |
代理公司: | 合肥华信专利商标事务所 | 代理人: | 余成俊 |
地址: | 230031安*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | 本发明公开了一种光学流速颗粒物浓度测量方法与装置,包括有发光二极管和调制电路,发光二极管的前方安装有二个光电二极管探测器,光电二极管探测器将信号分别经过放大、检波电路后,接入低频带通滤波器a、b,低频带通滤波器a、b输出的信号分别经过A/D模数转换接入计算机数据处理系统。由计算机采样、处理,计算两路信号的互相关,最后由最大互相关的时间延迟计算出流速;同时,信号经低频带通滤波器a和A/D模数转换后,计算颗粒物浓度。将烟气流流速和颗粒物浓度测量结合在一起,简化了仪器结构,降低了成本,同时能提供颗粒物排放的必须数据,因而更具实用性和使用价值。 | ||
搜索关键词: | 光学 流速 颗粒 浓度 测量方法 装置 | ||
【主权项】:
1、光学流速颗粒物浓度测量方法,其特征是将发光二极管经高频调制后发出的光,经透镜发射,光束穿过烟气流后,由两个透镜分别汇聚到透镜后的光电二极管探测器,探测器取得的两个被调制的电信号分别放大、检波,检波后信号强度的变化和光强相对变化一致,即为光闪烁信号;低频带通滤波器a、b将光闪烁信号进一步放大并去除直流成分,再经A/D模数转换,由计算机采样、处理,计算两路信号的互相关,最后由最大互相关的时间延迟计算出流速;同时,信号经低频带通滤波器a和A/D模数转换后,计算颗粒物浓度。
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