[发明专利]粒子分析仪用参照物有效
| 申请号： | 200610098740.9 | 申请日： | 2006-07-12 |
| 公开（公告）号： | CN1880942A | 公开（公告）日： | 2006-12-20 |
| 发明（设计）人： | 川手康德 | 申请（专利权）人： | 希森美康株式会社 |
| 主分类号： | G01N15/14 | 分类号： | G01N15/14;G01N21/64;G01N33/50 |
| 代理公司： | 北京金之桥知识产权代理有限公司 | 代理人： | 梁朝玉 |
| 地址： | 日本兵库县神户市中央*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供一种可以检测出以往参照物无法检测出的粒子分析仪故障的参照物。上述参照物是粒子分析仪用参照物，该粒子分析仪对生物试样中所含被测粒子用一定的色素进行荧光染色处理，再对经荧光染色的被测粒子进行分析。参照物由经上述荧光染色处理的第一标准粒子和预先经染色制备的、可以显示一定荧光强度的第二标准粒子组成。本发明还提供用参照物推断粒子分析仪的异常部位的方法和装置。 | ||
| 搜索关键词： | 粒子 分析 参照物 | ||
【主权项】：
1.一种粒子分析仪用参照物，该粒子分析仪用色素对生物试样中所含被测粒子进行荧光染色处理，然后分析被荧光染色的被测粒子；该参照物包括：·经上述荧光染色处理而荧光染色的第一标准粒子；及·预先含有一定荧光色素的第二标准粒子。
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