[发明专利]测试区的非光学读取无效
| 申请号： | 200610099886.5 | 申请日： | 2006-06-09 |
| 公开（公告）号： | CN1880952A | 公开（公告）日： | 2006-12-20 |
| 发明（设计）人： | J·F·皮特里拉;C·T·谢姆部里;P·R·罗部里什 | 申请（专利权）人： | 阿瓦戈科技通用IP（新加坡）股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N27/00 | 分类号： | G01N27/00;G01N27/04;G01N27/22;G01N27/72 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 王庆海;陈景峻 |
| 地址： | 新加坡*** | 国省代码： | 新加坡;SG |
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| 摘要： | 测试区读取，将共轭物材料暴露于样品，当该共轭物材料与样品中的至少一种分析物轭合时，该共轭物材料形成可电检测或者可磁检测的轭合物。样品中的轭合物在测试区中被获取，对测试区中被获取的轭合物执行测试，以检测样品中的分析物。该测试是电测量或者磁测量。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 光学 读取 | ||
【主权项】：
1、一种用于读取测试区的方法，包括：使共轭物材料暴露于样品，当共轭物材料与样品中的至少一个分析物轭合时，该共轭物材料形成下列类型的轭合物之一：可电检测的轭合物、可磁检测的轭合物；在测试区中获取由暴露于共轭物材料的样品而产生的轭合物；以及为了检测分析物，对在测试区中获取的轭合物执行下列测量类型的至少一种：电测量、磁测量。
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