[发明专利]氮化物半导体衬底的制造方法及复合材料衬底有效
申请号: | 200610100109.8 | 申请日: | 2006-06-28 |
公开(公告)号: | CN101097855A | 公开(公告)日: | 2008-01-02 |
发明(设计)人: | 刘柏均;刘文岳;赖志铭;郭义德;蔡政达 | 申请(专利权)人: | 财团法人工业技术研究院 |
主分类号: | H01L21/20 | 分类号: | H01L21/20;H01L29/02;H01L31/0248;H01L33/00 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人: | 陶凤波;侯宇 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 一种氮化物半导体衬底的制造方法是先提供一个第一衬底,这个第一衬底包括第一基材、堆叠于第一基材上的氮化物半导体模板层以及堆叠于氮化物半导体模板层上的第一介质层。接着,构图第一介质层和氮化物半导体模板层,再提供一个第二衬底,这个第二衬底包括第二基材以及堆叠于第二基材上的第二介质层。随后,以键合转移工艺将第一衬底的氮化物半导体模板层以及第一介质层转移到第二衬底的第二介质层上,然后利用一道外延工艺自氮化物半导体模板层生长一层氮化物半导体厚膜。之后,将氮化物半导体厚膜与第二衬底分离。 | ||
搜索关键词: | 氮化物 半导体 衬底 制造 方法 复合材料 | ||
【主权项】:
1.一种氮化物半导体衬底的制造方法,包括:提供第一衬底,该第一衬底包括第一基材、堆叠于该第一基材上的氮化物半导体模板层以及堆叠于该氮化物半导体模板层上的第一介质层;构图该第一介质层和该氮化物半导体模板层;提供第二衬底,该第二衬底包括第二基材以及堆叠于该第二基材上的第二介质层;以键合转移工艺将该第一衬底的该氮化物半导体模板层以及该第一介质层转移到该第二衬底的该第二介质层上;利用外延工艺自该氮化物半导体模板层生长氮化物半导体厚膜;以及分离该氮化物半导体厚膜与该第二衬底。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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