[发明专利]富硅氧化物的制造方法及半导体器件的制造方法无效
| 申请号： | 200610100110.0 | 申请日： | 2006-06-28 |
| 公开（公告）号： | CN1937180A | 公开（公告）日： | 2007-03-28 |
| 发明（设计）人： | 李正贤;房想奉 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | H01L21/316 | 分类号： | H01L21/316;H01L21/285;H01L21/336 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 陶凤波;侯宇 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 提供了一种用在非易失性存储器件中的富硅氧化物(SRO)的制造方法以及使用该SRO的半导体器件。所述制造SRO的方法包括如下步骤：向所述衬底上吸收不含氧的第一硅源气体并通过含氧反应气体和所述第一硅源气体之间的氧化反应形成SiO2层；以及通过不含氧的第二硅源气体和对应于所述第二硅源气体的反应气体之间的还原反应形成Si层。所述制造方法方便了SRO中O浓度的调节并提供了出色的台阶覆盖，于是允许制造高质量的半导体器件。 | ||
| 搜索关键词： | 氧化物 制造 方法 半导体器件 | ||
【主权项】：
1.一种在衬底上制造具有SiO2和富余Si的富硅氧化物的方法，所述方法包括：向所述衬底上吸收不含氧的第一硅源气体并通过含氧反应气体和所述第一硅源气体之间的氧化反应形成SiO2层；以及通过不含氧的第二硅源气体和对应于所述第二硅源气体的反应气体之间的还原反应形成Si层。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
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