[发明专利]有源矩阵基片、显示装置及制造有源矩阵基片的方法有效
申请号: | 200610103005.2 | 申请日: | 2001-07-09 |
公开(公告)号: | CN101026130A | 公开(公告)日: | 2007-08-29 |
发明(设计)人: | 辻村隆俊;德弘修;三和宏一;师冈光雄 | 申请(专利权)人: | 友达光电股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/84 | 分类号: | H01L21/84;H01L21/336 |
代理公司: | 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 寿宁;张华辉 |
地址: | 中国台湾新竹科*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 所公开的是一种有源矩阵基片,通过把栅绝缘膜和ITO膜沉积在导线上使该基片能防止引出线腐蚀等问题,而又不增加图案形成过程的次数,提高制造过程的生产量及可靠性。本发明包括源极和漏极,它们沉积在绝缘基片上并彼此分开一个预先确定的间隙;沉积在源极和漏极上的a-Si层;沉积在a-Si层上的栅绝缘膜;沉积在栅绝缘膜上的栅极;以及具有第1和第2部分的ITO膜,这第1部分覆盖在栅极上,其图案与栅极图案基本相同,这第2部分沉积在或者是源极或者是漏极上并构成像素电极;以及与漏极相连的数据线,它由栅绝缘膜覆盖,从而使a-Si膜介入这二者之间。 | ||
搜索关键词: | 有源 矩阵 显示装置 制造 方法 | ||
【主权项】:
1.一种制造有源矩阵基片的方法,包含如下步骤:在绝缘基片上形成栅极图案;在所述栅极上顺序沉积栅绝缘膜和半导体层,然后形成金属膜;在考虑要形成图案的所述金属膜的图案和考虑像素电极图案的情况下,沉积-ITO膜;使用所述ITO膜作为掩膜对所述ITO膜形成图案,从而形成源极和漏极。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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