[发明专利]测试电路、延迟电路、时钟发生电路和图像传感器无效
申请号: | 200610103128.6 | 申请日: | 2006-07-05 |
公开(公告)号: | CN1892235A | 公开(公告)日: | 2007-01-10 |
发明(设计)人: | 岛本行博 | 申请(专利权)人: | 夏普株式会社 |
主分类号: | G01R29/02 | 分类号: | G01R29/02;H03L7/08 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 浦柏明;刘宗杰 |
地址: | 日本大阪*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明所述的测试电路包括:延迟电路(11),能够控制延迟时间;相位比较电路(12),将测试对象的时钟信号S0的相位与用延迟电路(11)使时钟信号S0延迟后的延迟时钟信号S1的相位进行比较;次数计数器(13),将对于来自相位比较电路(12)的规定比较结果的输出次数进行计数;信号切换电路(14),将输入到延迟电路(11)的信号从时钟信号S0切换为经由延迟电路(11)的满足振荡条件的延迟信号,形成环形振荡器;以及频率测量电路(15),测量形成环形振荡器时的振荡频率,延迟电路(11)包括将可变延迟单元多级串联连接而成的可变延迟电路部(17),可变延迟单元的延迟时间构成为能够进行分别控制。 | ||
搜索关键词: | 测试 电路 延迟 时钟 发生 图像传感器 | ||
【主权项】:
1.一种用于评价时钟信号的定时精度的测试电路,其特征在于,包括:延迟电路,能够控制延迟时间;相位比较电路,将测试对象的上述时钟信号的相位与用上述延迟电路使上述时钟信号延迟后的延迟时钟信号的相位进行比较;次数计数器,将对于来自上述相位比较电路的规定比较结果的输出次数进行计数;信号切换电路,将输入到上述延迟电路的信号从上述时钟信号切换为经由上述延迟电路的满足振荡条件的延迟信号,形成环形振荡器;以及频率测量电路,测量在用上述信号切换电路形成上述环形振荡器时的振荡频率,上述延迟电路包括将可变延迟单元多级串联连接而成的可变延迟电路部,上述可变延迟单元的延迟时间构成为能够分别进行控制。
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